開爾文探針係統KP技術在使研究人員能夠改進其材料的特性方麵處於Leading position地位。
91免费版网站的專業知識支持新興和材料技術的發展。
目前令人興奮的增長領域包括太陽能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究,然而這項技術可以應用於許多科學領域


掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用於測試導電材料的功函或半導體材料表麵的表麵電勢,表麵功函。由材料表麵最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表麵分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試係統。
特性
•在空氣中光電發射功函數
•密度的狀態測量
•3.4 eV至7.0 eV能量範圍
•測量所有半導體波段
•開爾文探針接觸電位差
應用領域:
•有機和非有機半導體
•金屬和金屬合金
•薄膜和表麵氧化物
•太陽能電池和有機光伏
•腐蝕和納米技術